LCR 미터21 HIOKI(히오키 ) LCR 하이테스터 3511-50 HIOKI(히오키 ) LCR 하이테스터 3511-50 ( 미세한 측정에서, 대용량 측정까지 ) 3511-50E1.pdf > 5ms의 고속측정을 할 수 있는 Compact LCR측정기 > 최고속도 5ms(1kHz)/13ms(120Hz)의 고속측정 > Line 측정에 대응하는 고속 Comparator기능 내장 > 측정주파수 : 1kHz/120Hz의 전환 > 최소 분해능 0.01pF의 미세한 측정에서 1F까지의 대용량 측정까지 > 9442 PRINTER로 측정치, Comparator 결과 인쇄 가능(Option) 기본스펙 - 측정 파라미터 : |Z|, θ, C, L, D , Q, R - 측정 범위 : |Z|, R ; 10mΩ∼200.00MΩ θ;-90.00˚∼+90.00˚ C;(120Hz때);9.40pF∼99.. 2016. 2. 2. HIOKI (히오키) C 하이테스터 3504 HIOKI (히오키) C 하이테스터 3504 (테이핑 머신에 대응하는 Max. 2 ms의 초고속 측정) 3506E2-87B_web.pdf > 최대 14 랭크로 분류하는 BIN 기능(3504)에 의해 용량 선별이 가능 > 라인 측정에 대응하는 고속 콤퍼레이터 기능 내장 > 콤퍼레이터 설정치를 측정치와 동시 표시, 선별이 용이 > 최고 속도 2 ms의 고속 측정으로 팁 부품 테이핑 머신에 대응 > 정전압 측정： 1 V(~70μF), 500 mV(~170μF), 1 kHz시 > 방아쇠 동기 출력 기능 기본스펙 Measurement items Cs, Cp, D (loss coefficient) Measurement frequency 120 Hz or 1kHz, Accuracy : ± 0.01% or less M.. 2016. 2. 2. HIOKI 임피던스 아날라이져 IM7580 HIOKI 임피던스 아날라이져 IM7580 (빠른 측정, 높은 반복 정밀도로 생산성 향상) IM7580E2-5ZE.pdf > 측정 주파수 1MHz~300MHz > 측정 시간 : 빠른 0.5ms > 기본 정확도 ± 0.72 % rdg. > 하프랙 사이즈의 컴팩트한 본체 > 광범위한 접촉 체크(via DCR testing, Hi-Z reject or waveform judgment) > 아날라이저 모드에서 측정주파수, 측정신호 레벨을 sweep하며 측정. 기본 스펙 Measurement modes LCR mode, Analyzer mode (Sweeps with measurement frequency and measurement level), Continuous measurement mode Measurem.. 2016. 2. 2. HIOKI LCR 미터 IM3533 / IM3533-01 R&D 및 생산현장까지 사용가능한 HIOKI LCR 미터 IM3533 / IM3533-01 IM3523E3-24B.pdf > ±0.05%의 정확도와 광범위한 측정 조건(DC 및 40Hz∼200kHz, 5mV∼5V, 10μA∼50mA 설정 가능) > C-D, ESR 등 조건이 다른 측정을 연속으로 할 경우 전체 측정 속도가 10배 빨라짐(종래 기계 3532-50 비교) > LOW 임피던스 측정 모드를 탑재하여 , LOW 인덕턴스나 알루미늄 전해 콘덴서의 ESR 측정에 효과적 > 권수비/상호 인덕턴스(mutual inductance)/온도보정 부착DCR 등 트랜스 전용 측정 > 주파수 스윕 테스트(IM3533-01) > 컴퍼레이터 및 BIN functions 내장 > 측정시간 0.002초의 고속측정 기본 스.. 2016. 2. 2. 이전 1 2 3 4 5 6 다음
